Analytical instruments
本センターでの分析には,比較社会文化研究院環境変動部門に配備された様々な分析機器を使用しています.
分析機器
レーザー溶出型マルチコレクター誘導結合プラズマ 質量分析計 NEPTUNE (LA-MC-ICP-MS) |
レーザー溶出型誘導結合プラズマ質量分析計 (LA-ICP-MS,レーザー:New Wave Research UP-213;ICP-MS:Agilent 7500cx) |
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微小領域の超極微量元素や同位体を測定する装置.二重収束型の質量分離装置を備え,高精度の分析が可能である.また,レーザー溶出装置にエキシマレーザーを導入し,高分解能の準非破壊(破壊領域が特定困難な程度に極微小)分析が可能である.希土類元素,白金族元素,同位体などの組成に基づいて,様々な資料の原産地同定や年代測定を行う. | 微小領域の極微量元素や同位体を測定する装置.レーザーを用いたサンプリングにより,準非破壊(破壊領域が特定困難な程度に極微小)分析が可能.希土類元素や同位体の組成に基づいて,骨,飲料水,岩石・鉱物などの産地同定に加え,年代測定も実施できる. |
フィールドエミッション電子プローブ マイクロアナライザー (FE-EPMA:JEOL JXA-8530F) |
レーザーラマン分光光度計 (JASCO NRS-3000) |
極微小(1μm以下)における元素分析が可能な装置.5つのWDS分光器と,SSD-EDS検出器を装備し,極微小な鉱物の元素分析や年代測定,多元素濃度分布の高速マッピングにも応用できる. | 微小領域における物質の分子構造に関する情報を獲得する装置.鉱物をはじめとする物質の同定や,炭質物などの結晶化度を明らかにすることが可能. |
波長分散型蛍光X線分析装置 (XRF:RIGAKU ZSX PrimusII) |
蛍光X線元素分析装置 (XRF:HORIBA MESA-500W) |
岩石などの粉末試料や液体試料などの元素分析を行う装置.精度の良い粉末試料分析のためには,グラスビードの作成が必要である.低希釈率グラスビートを用いることで,数ppmの微量元素分析が可能である.また,岩石スラブの元素マッピングを行うこともできる. | 固体、粉体、液体試料の元素分析を行う装置。小型のガラス・金属製遺物などの非破壊での元素分析に使用している。 |
観察装置
分析電子顕微鏡 (SEM-EDS-CL:JEOL JSM-5310) |
デジタルマイクロスコープ・ 超深度マルチアングル観察システム (KEYENCE VHX-1000/D500シリーズ) |
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電子線を照射することで得られる,二次電子(SEM)像,後方散乱電子(BSE)像,カソードルミネッセンス(CL)像に基づく微小組織の観察をする装置.EDS検出器を装備しており,元素分析も可能である. | 非蒸着で観察が可能な電子顕微鏡と光学顕微鏡の複合観察装置.レンズの角度は可変であり,試料の立体観察が可能である. |
X線撮影検査装置 (SOFTEX CMB-80W) |
スキャナータイプ画像解析装置 (GEヘルスケアジャパン Typhoon FLA 7000) |
試料のX線撮影を行うための装置。軟X線による透過像をモニターで観察しながら撮影を行うことができる。古人骨や出土資料などの観察・撮影に使用している。 | 非蒸着で観察が可能な電子顕微鏡と光学顕微鏡の複合観察装置.レンズの角度は可変であり,試料の立体観察が可能である. |
試料調整装置
自動精密切断装置 (BUEHLER Isomet 1000) |
精密粉砕装置 (左:安井器機 マルチビーズショッカー, 右:Retsch MM400) |
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低速回転・軽荷重により,小型試料の精密切断が可能. | 微量試料の精密・迅速粉砕を行い,粉末試料を作成する装置. |
岩石粉砕装置 (左:CMT TI-200,右:Retsch Mortar Grinder) |
スタンプミル (ニットー ANS-143) |
固体試料の粉砕を行い,粉末試料を作成する装置. | ジルコンなどの鉱物分離に用いる粉末試料を作成する装置. |
グラスビードサンプラー (奥:東京科学 NT-2120, 手前:RIGAKU全自動ビードサンプラ) |
精密研磨装置 (左:EXAKT MG400CS, 右:マルトー Doctor Lap) |
岩石などの粉末試料からXRF分析用のグラスビードを作成するための装置. | 岩石試料や,石器・ガラス玉などの考古資料を精密に研磨し,平坦な鏡面を作成する装置.EPMAやSEMなどを用いた分析の前処理として使用する. |